- Instructor: Croitoru Gabriel
Dispozitivul este capabil să efectueze aproximativ 40 de tipuri de măsurători, ceea ce permite analiza proprietăților fizice ale suprafeței cu foarte bună precizie la o rezoluție înaltă. Este posibilă efectuarea de experimente în aer, în lichide și în mediu controlat. Ntegra Prima operează în frecvență înaltă (până la 5 MHz). Cu ajutorul AFM-ului se pot obține imagini tridimensionale ale suprafeţelor (izolatoare sau conductoare) cu o rezoluție nano în plan lateral și sub Ångstrom în plan vertical. Acest echipament este utilizat atât în cercetarea fundamentală cât și la scală mai mare. În industrie AFM-ul joacă un rol deosebit în dezvoltarea nanotehnologiei, el reprezintă cea mai folosită tehnică a Microscopiei cu Scanare a Suprafeței (SPM). Există mai multe tipuri de scanare implementate în modelul NTEGRA Prima: scanare pe probă, scanare de sondă și dublă-scanare. Sistemul este ideal pentru investigarea de suprafețe mici cu dimensiuni de pâna la 100 x 100 x 10 µm. Ntegra Prima beneficiază de un sistem optic cu rezoluție de 1 µm ce permite urmărirea procesului de scanare în timp real. Senzorii de control în buclă inchisă, urmăresc deplasarea reală a scanerului pe trei axe și compensează imperfecțiunile inevitabile ale elementelor piezoceramice precum: non-liniaritatea, fluajul și histerezisul. Senzorii folosiți de NT-MDT, au cel mai scăzut nivel de zgomot, permițând astfel lucrul în buclă închisă pe arii foarte mici (până la 10×10 nm).
Tehnici și moduri de măsurare:
În aer&lichid:
- AFM (contact + semi-contact + non-contact) / Microscopie cu forță laterală (LFM) / Imagistică de fază (PIM) / Force Modulation/ Microscopie cu forță de adeziune (AdFM) / Litografie AFM (Force)
Doar în aer:
- STM / Microscopie cu forță magnetică (MFM) / Microscopie cu forță electrostatică (EFM) / Microscopie cu scanare a capacității (SCM) / Microscopie cu sondă Kelvin / Imagistică a difuziei rezistivității (SRI) / Litografie AFM.
Aplicații:
- biologie și biotehnologie;
- proteine, ADN, virusuri, bacterii, țesuturi;
- ştiința materialelor;
- morfologia suprafeței, proprietățile piezoelectrice locale, forțe de adeziune, proprietăți tribologice locale;
- materiale magnetice;
- observarea proprietăților magnetice;
- semiconductori (proprietăți electrice);
- polimeri și filme subțiri;
- dispozitive de stocare a datelor și a fișierelor media;
- nanomateriale;
- nanostructuri;
- nanoelectronică.
