Serviciul „Caracterizarea complexă a micro- și nanomaterialelor prin SEM-EDS/WDS”, furnizat de ICSTM, oferă capabilități analitice avansate pentru investigarea materialelor la scară micro- și nanometrică, susținând atât activitățile de cercetare științifică, cât și aplicațiile industriale. Prin combinarea microscopiei electronice de baleiaj de înaltă rezoluție cu tehnicile de spectroscopie de raze X cu dispersie în energie și dispersie în lungime de undă, serviciul permite caracterizarea structurală, morfologică și elementală complexă a unei game variate de materiale și suprafețe.
Serviciul permite realizarea unor analize morfologice detaliate ale micro- și nanomaterialelor, incluzând vizualizarea geometriei particulelor, porozității, rugozității suprafeței, straturilor de acoperire și organizării fibrelor. Prin imagistica SEM, arhitecturile complexe ale suprafețelor și caracteristicile microstructurale pot fi examinate cu precizie ridicată, furnizând informații valoroase privind calitatea materialelor, procesele de degradare și performanța proceselor de fabricație.
Microanaliza integrată EDS/WDS asigură caracterizarea elementală calitativă și cantitativă în puncte selectate, de-a lungul unor linii definite sau pe suprafețe cartografiate. Aceste investigații sunt deosebit de utile pentru identificarea contaminanților, verificarea purității aliajelor, evaluarea compozițională a probelor geologice și analiza distribuției elementelor în materiale complexe. Sistemul permite, de asemenea, cartografiere elementală avansată și corelarea dintre morfologie și compoziția chimică.
Serviciul include și investigații fractografice utilizate pentru identificarea mecanismelor de fractură și a cauzelor de defectare în materiale metalice, ceramice sau compozite. Prin analiza suprafețelor de fractură, pot fi diferențiate fractura fragilă, fractura ductilă, degradările induse de oboseală sau deteriorările asociate coroziunii, contribuind la analiza defectelor în domenii precum metalurgia, ingineria auto, aeronautica și fabricația avansată.
Pot fi efectuate, de asemenea, măsurători dimensionale de înaltă precizie, incluzând determinarea grosimii straturilor de acoperire, dimensionarea particulelor, evaluarea nanostructurilor și măsurarea distanțelor dintre componente microelectronice sau circuite integrate. Aceste analize sunt esențiale pentru controlul calității, optimizarea proceselor și validarea materialelor și dispozitivelor avansate.
Platforma de caracterizare SEM-EDS/WDS răspunde necesităților companiilor, organizațiilor de cercetare și instituțiilor publice care activează în domenii precum nanotehnologia, semiconductorii, metalurgia, fotovoltaica, științele mediului, biologia, agricultura, industria alimentară, cosmetica, arheometria, precum și industriile chimică și petrolieră. Fluxul analitic este susținut de o infrastructură dedicată și de facilități pentru pregătirea probelor, incluzând sisteme de vid, unități de răcire, etuve de laborator, echipamente de șlefuire, suporturi pentru probe și materiale auxiliare necesare pentru realizarea unor investigații precise și reproductibile.