Serviciul de caracterizare a micro- și nanomaterialelor prin microscopie de forță atomică (AFM) oferă analize avansate de suprafață și structurale la scară micro- și nanometrică, permițând investigații morfologice, topografice și funcționale detaliate ale materialelor utilizate în aplicații tehnologice de înaltă performanță. Prin utilizarea tehnicilor AFM, pot fi obținute imagini 2D și 3D de înaltă rezoluție ale suprafețelor materialelor, permițând vizualizarea formei particulelor, evaluarea rugozității suprafeței și analiza detaliată a caracteristicilor structurale ale materialelor investigate.
Serviciul include caracterizarea depunerilor de straturi la scară nanometrică realizate prin tehnici precum pulverizarea catodică, evaporarea cu fascicul de electroni și alte metode de depunere a filmelor subțiri utilizate frecvent în microelectronică și ingineria materialelor. Analizele permit determinarea parametrilor de rugozitate, evaluarea uniformității straturilor de acoperire și investigarea morfologiei suprafeței, aspecte esențiale pentru optimizarea performanței funcționale a materialelor depuse și a componentelor fabricate.
În plus, serviciul integrează aplicații de defectoscopie AFM pentru identificarea defectelor de suprafață, microfisurilor, neomogenităților și a altor imperfecțiuni structurale care pot influența comportamentul mecanic, electric sau funcțional al materialelor. Aceste investigații susțin activitățile de control al calității, dezvoltarea materialelor avansate, precum și validarea și optimizarea proceselor tehnologice.
Beneficiarii potențiali ai acestui serviciu includ companii și instituții publice care activează în domenii precum nanotehnologia, metalurgia și industria siderurgică, producția de semiconductori și sistemele fotovoltaice. Datorită preciziei și rezoluției ridicate ale analizelor AFM, serviciul poate susține activități de cercetare-dezvoltare, procese de transfer tehnologic, optimizarea proceselor și evaluarea performanței materialelor destinate aplicațiilor industriale și științifice.
Implementarea serviciului necesită echipamente și materiale specializate, incluzând un microscop de forță atomică (AFM), sonde AFM dedicate pentru diferite moduri de măsurare, alcool izopropilic pentru curățarea probelor, discuri de mică utilizate ca substraturi, bandă adezivă dublu-adezivă pentru fixarea probelor, precum și alte echipamente și materiale auxiliare necesare pentru pregătirea și manipularea corespunzătoare a probelor în condiții controlate.